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標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱
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高溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱
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快速溫變?cè)囼?yàn)設(shè)備
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快速溫變?cè)囼?yàn)機(jī)ESS
快速循環(huán)變化試驗(yàn)機(jī)
高低溫快速變化試驗(yàn)機(jī)
溫度快速變化試驗(yàn)箱
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溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
快速溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)
溫度循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī)
高低溫濕熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
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光伏組件濕熱試驗(yàn)箱
太陽(yáng)能電池測(cè)試設(shè)備
太陽(yáng)能光伏組件試驗(yàn)機(jī)
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紫外光伏組件試驗(yàn)機(jī)
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光伏組件試驗(yàn)機(jī)
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雙八五濕冷凍試驗(yàn)箱
復(fù)合雙八五濕冷凍試驗(yàn)機(jī)
溫濕度交變?cè)囼?yàn)箱
機(jī)械式垂直振動(dòng)臺(tái)
振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
電磁式高頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
機(jī)械垂直高頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
機(jī)械式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
工頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
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預(yù)力式?jīng)_擊碰撞試驗(yàn)機(jī)
杜邦沖擊試驗(yàn)機(jī)
其它試驗(yàn)箱及氣候設(shè)備
跌落試驗(yàn)臺(tái)
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pct老化試驗(yàn)箱
氙燈老化試驗(yàn)箱
冷熱沖擊試驗(yàn)箱
電子除濕防潮試驗(yàn)機(jī)
耐砂塵試驗(yàn)機(jī)
耐黃變?cè)囼?yàn)機(jī)
耐氣候試驗(yàn)機(jī)
耐水試驗(yàn)機(jī)/淋雨試驗(yàn)箱
鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)
鹽霧耐腐蝕試驗(yàn)機(jī)
PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)
高壓加速老化壽命測(cè)試
PCT高壓老化測(cè)試設(shè)備
PCT高壓加速老化箱
PCT高壓老化試驗(yàn)機(jī)
PCT老化試驗(yàn)箱
PCT高壓加速壽命測(cè)試儀
高壓加速老化試驗(yàn)箱
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UV紫外線(xiàn)耐候試驗(yàn)箱
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UV紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱
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UV紫外線(xiàn)試驗(yàn)箱
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步入式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室
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微電腦紙箱耐壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
紙箱耐壓試驗(yàn)機(jī)
交流耐壓試驗(yàn)機(jī)
紙板耐壓試驗(yàn)機(jī)
紙箱破裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
淋雨試驗(yàn)箱
淋雨試驗(yàn)箱
hast加速老化試驗(yàn)箱
hast老化試驗(yàn)箱
線(xiàn)材檢測(cè)儀器
電腦伺服線(xiàn)材拉力試驗(yàn)機(jī)
微電腦線(xiàn)材檢測(cè)拉力測(cè)試
桌上型線(xiàn)材拉力試驗(yàn)機(jī)
插頭引線(xiàn)彎折試驗(yàn)機(jī)
全自動(dòng)線(xiàn)材插拔力檢測(cè)儀器
電線(xiàn)彎折試驗(yàn)機(jī)
材料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
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三綜合試驗(yàn)箱
三綜合振動(dòng)試驗(yàn)箱
三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱
溫度鹽霧復(fù)合式試驗(yàn)機(jī)
濕度鹽霧復(fù)合式試驗(yàn)機(jī)
鹽霧三綜合試驗(yàn)機(jī)
振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī)
溫濕度三綜合試驗(yàn)箱
振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱
復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)機(jī)
汽車(chē)性能綜合實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
聯(lián)系方式
廣東艾思荔檢測(cè)儀器有限公司
地址:廣東省東莞市東城立新金匯工業(yè)園
電話(huà):0769-22851840
手機(jī):13538469076
E-mail:2850687972@qq.com
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技術(shù)文章
>三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)介紹
技術(shù)文章
三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)介紹
三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱主要用于滿(mǎn)足GJB899國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性摸底試驗(yàn)等要求。該方法的目標(biāo)是通過(guò)試驗(yàn)得出平均操作時(shí)間“MTBF”值;適用于GJB1032電工電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選和民用電子產(chǎn)品的溫度振動(dòng)環(huán)境試驗(yàn)。
1、GB/T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
2、GB/T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
3、GB/T2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
4、GB/T2423.35-2005Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
5、GB/T2423.35-2019環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)和導(dǎo)則氣候(溫度、濕度)和動(dòng)力學(xué)(振動(dòng)、沖擊)綜合試驗(yàn)
6、GB/T2423.36-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFe,散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
7、GB/T2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
8、GB/T2424.22-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
9、GB/T5170.19-2018環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第19部分:溫度、振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
10、GB/T12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)
三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱可按用戶(hù)要求設(shè)計(jì)生產(chǎn),完成溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn),根據(jù)試驗(yàn)空間的形狀、性質(zhì)、質(zhì)量、散熱等優(yōu)化試驗(yàn)空間,同時(shí)考慮到振動(dòng)臺(tái)的尺寸,盡量節(jié)省實(shí)驗(yàn)空間,為客戶(hù)提供安全、穩(wěn)定、高性能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
更新更新時(shí)間:2022-09-28
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